Agenzia nazionale per le nuove tecnologie, l'energia e lo sviluppo economico sostenibile
Caratterizzazione chimico-fisica e microstrutturale
La caratterizzazione microstrutturale e chimico-fisica è finalizzata all’ottimizzazione dei parametri di processo in fase di sviluppo e alla definizione delle caratteristiche dei materiali. Le tecniche impiegate includono: microscopia ottica, microscopia elettronica con microanalisi (SEM-EDS), diffrattometria a raggi x (XRD), analisi termogravimetrica (TG-DTA), spettroscopia di emissione atomica (ICP-OES), spettrofotometria, microscopia ad epifluorescenza e analisi reologica.
Diffrattometro per analisi XRD. in configurazione Bragg-Brentano θ-2θ
Analisi termogravimetrica (TG-DTA) da temperatura ambiente fino a 1650 °C
Spettroscopia in emissione ICP-OES simultaneo - Perkin Elmer Optima 3300DV
Spettrofluorimetro per misure di fluorescenza in soluzioni e in film sottili con sfera integratrice (FS920 Edinburgh Instruments)
SEM-EDS, Microscopio a Scansione Elettronica (Leo 438-VP) e Spettrometro a Dispersione di Energia (Oxford Link ISIS 300)
Microscopio a epifluorescenza con filtri UV-2A (Nikon Eclipse Ni)
Spettrofotometro UV-Visibile per soluzioni e film sottili (Cary 100 Scan – Agilent)
Microscopio metallografico (Reichert Jung, MeF3)
Reometro rotazionale (Kinexus PRO+ -Malvern)